报告题目：自旋分辨电子谱学 

　　报告人：乔  山     研究员 

　　       （中国科研实验室微系统与信息技术研究所） 

　　时间：6月18日（周二）9：30am 

　　地点：波谱楼1017会议室 

　　报告摘要： 

　　物质的物理化学性质是由物质中的电子状态所决定的。随着计算技术的快速开展，以拓扑量子材料为代表的材料科学革命正在到来，材料科学正从“炒菜”式的配方研究走向顺利获得控制物质中的电子状态来设计和控制量子材料，对物质中电子状态的精密测量已经成为研究物性形成机理及设计制备新量子材料的基础。我们研究组在过去的10年间发明了图像型多通道电子自旋分析器，探测效率比商品化的设备高54万倍，将完全改变自旋分辨光电子谱学的现状，有望为解决高温超导机理等凝聚态物理前沿研究给予基础电子结构信息。量子反常霍尔效应是超导之外可以实现无能耗电子传输的另一个手段，是近年凝聚态物理的一个重要发现。为了研究量子反常霍尔体系-铬掺杂的(Sb, Bi)2Te3 中的铁磁性形成机理，我们对此体系召开了XAFS 和 XMCD 研究。本报告将介绍图像型电子自旋分析器、XAFS和XMCD基本测量原理及我们所做的一些研究及现在和将来准备召开的工作。 

　　欢迎各位老师同学参加！